局部放電測量程序：

試品預處理

試驗前試品應按有關規(guī)定進行預處理：

使試品表面保持清潔、干燥，以防絕緣表面潮氣或污染引起局放。

在無特殊要求情況下，試驗期間試品應處于環(huán)境溫度。

試品在前一次機械、熱或電氣作用以后，應靜放一段時間再進行試驗，以減少上述因素對本次試驗結果的影響。

檢查測試回路本身的局放水平

先不接試品，僅在試驗回路施加電壓，如果在略高于試品試驗電壓下仍未出現(xiàn)局放，則測試回路合格；如果其局放于擾水平超過或接近試品放電量最大允許值的50%，則必須找出干擾源并采取措施以降低干擾水平。

測試回路的校準

在加壓前應對測試回路中的儀器進行例行校正，以確定接入試品時測試回路的刻度系數(shù)，該系數(shù)受回路特性及試品電容量的影響。在已校正的回路靈敏度下，觀察未接通高壓電源及接通高壓電源后是否存在較大的干擾，如果有干擾應設法排除。

測定局放起始電壓和熄滅電壓

拆除校準裝置，其他接線不變，在試驗電壓波形符合要求的情況下，電壓從遠低于預期的局放起始電壓加起，按規(guī)定速度升壓直至放電量達到某一規(guī)定值時，此時的電壓即為局放起始電壓。其后電壓再增加10%，然后降壓直到放電量等于上述規(guī)定值，對應的電壓即為局放熄滅電壓。測量時，不允許所加電壓超過試品的額定耐受電壓，另外，重復施加接近于它的電壓也有可能損壞試品。

測量規(guī)定試驗電壓下的局放量

表征局放的參數(shù)都是在特定電壓下測量的，它可能比局放起始電壓高得多。有時規(guī)定測幾個試驗電壓下的放電量，有時規(guī)定在某試驗電壓下保持一定時間并進行多次測量，以觀察局放的發(fā)展趨勢。在測放電量的同時，可測放電次數(shù)、平均放電電流及其他局放參數(shù)。

無預加電壓的測量

試驗時試品上的電壓從較低值起逐漸增加到規(guī)定值，保持一定時間再測量局放量，然后降低電壓，切斷電源。有時在電壓升高、降低過程中或在規(guī)定電壓下的整個試驗期間測量局放量。

有預加電壓的測量

試驗時電壓從較低值逐漸升高，超過規(guī)定的局放試驗電壓后升到預加電壓，維持一定的時間，再降到試驗電壓值，又維持規(guī)定時間，然后按給定的時間間隔測量局放量。在施加電壓的整個期間內(nèi)，應注意局放量的變化。